激光椭偏仪 Laser Ellipsometer

• 激光椭偏仪SE 400advanced 

  

  多角度激光椭偏仪 SE400advanced使用632.8nm波长HeNe激光器，对测量薄膜厚度，折射率和吸收系数有非常出色的精度。 SE400advanced能够分析单层膜，多层膜和大块材料（基底） 

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